工業(yè)控制計算機\工控機檢驗標(biāo)準(zhǔn)

1?范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)控制計算機的定義，技術(shù)要求，試驗方法，檢驗規(guī)則，標(biāo)志，包裝，運輸，存貯等。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于工業(yè)控制計算機產(chǎn)品。

2?規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用與本標(biāo)準(zhǔn)，然而鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB?191-2000包裝儲運圖示標(biāo)志GB?1002-1996?家用和類似用途單相插座形式尺寸GB?2099.1-1996?家用和類似用途插頭插座。

第一部分：通用要求GB/T?2421-1999?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第一部分：總則GB/T?2422—1995?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

術(shù)語GB/T?2423.1—2001?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程

試驗A：低溫試驗方法GB/T?2423.2—2001?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程

試驗B：高溫試驗方法GB/T?2423.3—1993?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程

試驗C：恒定濕熱試驗方法GB/T?2828.1-2003?計數(shù)抽樣檢驗程序

第1部分：按接收質(zhì)量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃?GB/T?4857.2-1992?包裝件基本試驗溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T?4857.5-1992?包裝件基本試驗跌落試驗方法GB?4943-2001?信息技術(shù)設(shè)備（包括電氣事物設(shè)備）的安全GB-5080.7-1986?可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案。

GB6882-1986?聲學(xué)噪聲源聲功率級的測定消聲室和半消聲室精密法(neq?ISO?3745:1977)?GB?9254-1998?信息技術(shù)設(shè)備的無線電干擾極限值和測量方法試驗GB/T?9813-2000?微型計算機通用規(guī)范GB?17625.1—2003電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值（設(shè)備每相輸入電流≤16A）

3?定義：本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義。

3.1?工業(yè)控制計算機

在網(wǎng)絡(luò)環(huán)境中，能支持多個臺式或便攜式微型機同時操作，對網(wǎng)絡(luò)客戶端請求提供服務(wù)的實體。它比單個微型機具有更高的處理能力、I/O傳輸速度和功能擴展能力及安全性、可靠性、可管理性。能夠在網(wǎng)絡(luò)操作系統(tǒng)的控制下，將其軟硬件資源提供給所支持的網(wǎng)絡(luò)客戶端共享，也能為客戶端提供集中計算、數(shù)據(jù)庫管理等服務(wù)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的工業(yè)控制計算機系指在結(jié)構(gòu)上自成一體的基本硬件實體即以CPU為核心，包括RAM、ROM、I/O接口電路、磁盤控制器以及實體內(nèi)配置的外圍設(shè)備、電源等所構(gòu)成的硬件設(shè)備。

3.2?工業(yè)控制計算機硬件系統(tǒng)

在工業(yè)控制計算機的基礎(chǔ)上，根據(jù)用戶的不同要求，可增配擴充功能的單元和外圍設(shè)備、輸入輸出設(shè)備構(gòu)成規(guī)模和配置不同的硬件系統(tǒng)。

3.3?工業(yè)控制計算機系統(tǒng)

工業(yè)控制計算機硬件系統(tǒng)配置其操作系統(tǒng)軟件或再增配應(yīng)用軟件，便構(gòu)成工業(yè)控制計算機系統(tǒng)。

3.4?產(chǎn)品

指工業(yè)控制計算機加基本輸入輸出設(shè)備（鍵盤、鼠標(biāo)、顯示器）。